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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION
  • X射線衍射儀(XRD)

    衍射儀 CT-半導(dǎo)體元器件 X射線顯微鏡
  • 三維X射線顯微鏡(XRM)

    粉末衍射儀 高分辨率CT X射線全自動(dòng)化單晶定向儀 SKYSCAN 2214 CMOS版 D8 X射線衍射儀
  • 表面分析

    俄歇電子能譜儀 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 X射線光電子能譜儀 離子源系統(tǒng)
  • 釋光測(cè)試儀

  • 少子壽命測(cè)試儀(MDP)

    MDPpro 850+ 單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x(MDPmap) MDPlinescan少子壽命測(cè)試儀 MDPspot少子壽命測(cè)試儀
  • 電池片PID測(cè)試儀

    PID操作軟件 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀 雙面電池PID測(cè)試儀
  • X射線顯微CT

  • 通用儀器/耗材

    有機(jī)元素分析儀 TOC總有機(jī)碳分析儀
  • 配件耗材

  • 同位素質(zhì)譜儀

  • 定氮儀、杜馬斯定氮儀

  • ESR

  • 電子順磁共振波譜儀

  • 智能化XRD分析軟件

  • 激光拉曼光譜儀

  • 熒光光譜儀

  • PDF卡片

  • 國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心JADE軟件

  • 電子自旋共振波譜儀

  • 核磁共振(NMR)

  • 半導(dǎo)體專用檢測(cè)儀器設(shè)備

    RESmap 低電阻率測(cè)試儀 XRD
  • X射線輻射儀

    臺(tái)式X射線輻射儀
  • 自動(dòng)化定向檢測(cè)系統(tǒng)

    自動(dòng)化晶圓定向檢測(cè)系統(tǒng) 晶錠自動(dòng)化單晶定向系統(tǒng) 自動(dòng)化碳化硅晶錠粘接定向儀
  • 查看全部

  • X4 Poseidon新型臺(tái)式三維X射線顯微鏡
    新型臺(tái)式三維X射線顯微鏡

    型號(hào):X4 Poseidon

  • D6 Phaser多功能桌面式(臺(tái)式)衍射系統(tǒng)
    多功能桌面式(臺(tái)式)衍射系統(tǒng)

    型號(hào):D6 Phaser

  • D8X射線衍射儀
    X射線衍射儀

    型號(hào):D8

  • SKYSCAN 2214 CMOS版三維X射線顯微鏡 (XRM)SKYSCAN 2214
    三維X射線顯微鏡 (XRM)SKYSCAN 2214

    型號(hào):SKYSCAN 2214 CMOS版

  • DPM100雙棱鏡超寬連續(xù)光譜單色儀
    雙棱鏡超寬連續(xù)光譜單色儀

    型號(hào):DPM100

  • Skyscan1273微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統(tǒng)|束蘊(yùn)儀器出品
    微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統(tǒng)|束蘊(yùn)儀器出品

    型號(hào):Skyscan1273

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以用戶為中心 以人才為根本 努力實(shí)現(xiàn)你我共贏

束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。我們擁有一支積極樂觀,正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來(lái)質(zhì)量較高的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供完善的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天、國(guó)家機(jī)關(guān)、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)及工...

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技術(shù)文章

進(jìn)一步提高公司的技術(shù)、質(zhì)量和服務(wù)

  • 技術(shù)文章 2026-03-15
    微焦點(diǎn)CT:微米級(jí)無(wú)損成像,筑牢工業(yè)與科研精準(zhǔn)檢測(cè)防線

    無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)控、科研創(chuàng)新的核心支撐,尤其在高精度零部件、復(fù)雜材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析中,既要精準(zhǔn)捕捉細(xì)微缺陷,又需避免損傷樣品。微焦點(diǎn)CT依托微焦點(diǎn)X射線技術(shù)與三維斷層掃描技術(shù),將焦點(diǎn)尺寸縮小至微米級(jí)別,實(shí)現(xiàn)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的高分辨率成像與定量分析,無(wú)需破壞樣品即可清晰呈現(xiàn)內(nèi)部孔隙、裂紋、裝配缺陷等細(xì)節(jié),成為航空航天、電子制造、材料研發(fā)等多領(lǐng)域的核心檢測(cè)裝備,助力企業(yè)提升產(chǎn)品品質(zhì)、加快科研進(jìn)程。在航空航天與制造領(lǐng)域,微焦點(diǎn)CT是保障產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵裝備。航空發(fā)動(dòng)機(jī)渦輪葉片、航天...

  • 技術(shù)文章 2026-03-13
    微納米CT解鎖微觀領(lǐng)域研究新可能

    隨著科技不斷升級(jí),材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域?qū)ξ⒂^結(jié)構(gòu)檢測(cè)的精度要求持續(xù)提升,需實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的細(xì)節(jié)捕捉與動(dòng)態(tài)分析。微納米CT在微焦點(diǎn)CT技術(shù)基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)突破,將成像分辨率提升至納米級(jí)別,依托先進(jìn)的X射線源與高靈敏度探測(cè)器,可清晰呈現(xiàn)樣品納米級(jí)內(nèi)部結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)從“宏觀觀察”到“微觀解析”的跨越,為科研、精密制造等領(lǐng)域提供精準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)解決方案,推動(dòng)技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)升級(jí)。在材料科學(xué)與納米材料研發(fā)領(lǐng)域,微納米CT是探索微觀結(jié)構(gòu)的核心工具。對(duì)于碳纖維復(fù)合材料、金屬3D打印件、納米陶...

  • 技術(shù)文章 2026-03-10
    精準(zhǔn)測(cè)定,穿越時(shí)光——釋光測(cè)試儀在地質(zhì)與考古年代學(xué)中的核心應(yīng)用

    時(shí)間,是解讀地球演化與人類文明最深?yuàn)W的密碼。在廣袤的地質(zhì)沉積與沉寂的考古遺存中,如何精確測(cè)定那些超越碳十四測(cè)年范圍(通常>5萬(wàn)年)的年代,始終是科學(xué)家面臨的重大挑戰(zhàn)。釋光測(cè)試儀如同一把精準(zhǔn)的“時(shí)光標(biāo)尺”,通過(guò)測(cè)定礦物晶體最后一次暴露于陽(yáng)光或受熱后至今所累積的輻射能量,成功實(shí)現(xiàn)了對(duì)數(shù)十萬(wàn)年至上百萬(wàn)年時(shí)間跨度的直接測(cè)定,為我們打開了透視深層時(shí)光的窗口。技術(shù)原理:捕捉礦物晶體中的“時(shí)光存儲(chǔ)器”釋光測(cè)年,包括熱釋光(TL)和光釋光(OSL)兩種主要技術(shù),其核心原理基于石英、長(zhǎng)石等礦物...

  • 技術(shù)文章 2026-03-06
    釋光與碳十四結(jié)果互證,為晚全新世中亞黃土建立可靠年代標(biāo)尺

    《QuaternaryGeochronology》新研究在地球科學(xué)的研究中,精確的年代學(xué)框架是解讀古環(huán)境變化歷史的基石。尤其在廣袤而干旱的中亞地區(qū),厚厚的黃土沉積如同記錄氣候變遷的“史書”,但其年代的確定卻一直充滿挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的碳十四(14C)定年法常因理想的測(cè)年材料(如碳屑、植物殘?bào)w等)匱乏或存在“碳污染”而結(jié)果存疑。那么,是否有另一種技術(shù)能夠提供單獨(dú)、可靠的年代驗(yàn)證,甚至彌補(bǔ)14C定年的不足呢?近期,陜西師范大學(xué)、中國(guó)科學(xué)院地球環(huán)境研究所等團(tuán)隊(duì)聯(lián)合發(fā)表在《Quaternar...

  • 技術(shù)文章 2026-03-06
    多晶X射線衍射儀:解碼材料微觀世界的“通用指紋識(shí)別器”

    在材料科學(xué)、藥物研發(fā)、地質(zhì)勘探及文物保護(hù)等眾多領(lǐng)域,準(zhǔn)確識(shí)別物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)與物相組成是理解其性能、優(yōu)化其工藝的基礎(chǔ)。多晶X射線衍射儀又稱粉末X射線衍射儀(PXRD),憑借其無(wú)需單晶樣品、測(cè)試便捷、信息豐富等特點(diǎn),成為實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用廣泛的結(jié)構(gòu)性分析工具。它如同一種“通用指紋識(shí)別器”,通過(guò)捕捉材料的衍射圖譜,精準(zhǔn)解析出物質(zhì)的化學(xué)成分、晶胞參數(shù)、結(jié)晶度及微觀應(yīng)力等關(guān)鍵信息。多晶X射線衍射儀的工作原理基于布拉格定律。當(dāng)一束單色X射線照射到由無(wú)數(shù)微小晶粒隨機(jī)取向組成的粉末樣品上時(shí),滿足特...

  • 技術(shù)文章 2026-03-06
    一鍵操作,多維解析:全自動(dòng)單晶定向儀的核心技術(shù)、工作流程與性能優(yōu)勢(shì)解析

    在半導(dǎo)體、航空航天、新能源等制造領(lǐng)域,單晶材料的晶體取向是決定其物理性能與器件功能的核心參數(shù)。傳統(tǒng)的手動(dòng)或半自動(dòng)定向方法,嚴(yán)重依賴操作者經(jīng)驗(yàn),效率低、重復(fù)性差,已成為制約研發(fā)與質(zhì)控的瓶頸。全自動(dòng)單晶定向儀的誕生,以“一鍵操作”的極簡(jiǎn)交互和“多維解析”的深度洞察,實(shí)現(xiàn)了晶體取向分析的技術(shù)革命。一、核心技術(shù):賦能“一鍵”與“多維”的三大支柱“一鍵操作”的背后,是多項(xiàng)前沿技術(shù)的深度融合,共同構(gòu)成了儀器的智能內(nèi)核。1、高精度機(jī)器視覺與自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng):這是儀器的“眼睛”。它通常集成高分辨...

  • 技術(shù)文章 2026-03-03
    光伏與集成電路產(chǎn)業(yè)的質(zhì)量衛(wèi)士:少子壽命測(cè)試儀的技術(shù)發(fā)展與選型要點(diǎn)

    半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命(簡(jiǎn)稱“少子壽命”),是表征其內(nèi)部晶格完整性、雜質(zhì)缺陷濃度和復(fù)合中心密度的核心電學(xué)參數(shù)。它直接關(guān)聯(lián)到最終器件的性能極限:在光伏行業(yè)中,它決定了太陽(yáng)能電池的轉(zhuǎn)換效率;在集成電路領(lǐng)域,它深刻影響器件漏電流、開關(guān)速度與可靠性。因此,作為這一關(guān)鍵指標(biāo)的“把脈者”——少子壽命測(cè)試儀,已成為貫穿半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈,從原材料、晶錠、晶片到工藝監(jiān)控環(huán)節(jié)的“質(zhì)量衛(wèi)士”。其技術(shù)發(fā)展日新月異,而科學(xué)選型則是發(fā)揮其價(jià)值的前提。一、技術(shù)發(fā)展:從接觸式到非接觸,從體材料到微觀成像少子...

  • 技術(shù)文章 2026-02-09
    粉末衍射儀結(jié)構(gòu)解析:光源、測(cè)角儀、檢測(cè)器與樣品臺(tái)的技術(shù)特點(diǎn)

    粉末X射線衍射儀作為材料晶體結(jié)構(gòu)分析的核心工具,其分析精度和效率高度依賴于儀器各核心組件的技術(shù)性能。一臺(tái)現(xiàn)代衍射儀是精密光學(xué)、機(jī)械傳動(dòng)、電子控制和計(jì)算機(jī)技術(shù)的系統(tǒng)集成。深入理解其四大核心部件——光源、測(cè)角儀、檢測(cè)器與樣品臺(tái)的技術(shù)特點(diǎn),不僅是正確操作設(shè)備的基礎(chǔ),更是優(yōu)化實(shí)驗(yàn)方案、解析復(fù)雜數(shù)據(jù)的前提。這些組件協(xié)同工作,共同決定了衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量、分辨率和采集效率。一、X射線光源系統(tǒng):輻射強(qiáng)度與單色性的源頭光源是衍射儀的能量起點(diǎn),其性能直接影響衍射信號(hào)的強(qiáng)度和信噪比。1、常規(guī)封閉管X...

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